
PMST系列功率器件靜態參數測試系統集多種測(ce)(ce)量和(he)(he)分析功(gong)能于一體,不僅提(ti)供IV、CV、跨導等多元化(hua)的測(ce)(ce)試功(gong)能,具備高電(dian)壓和(he)(he)大電(dian)流特性(xing)(10kV/6000A),以及μΩ級(ji)精確電(dian)阻(zu)測(ce)(ce)量和(he)(he)nA級(ji)漏電(dian)流測(ce)(ce)量能力,能夠全面滿(man)足從基(ji)礎功(gong)率二(er)極(ji)管(guan)、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tai)參數表征和(he)(he)測(ce)(ce)試需求(qiu),為功(gong)率半導體行業(ye)提(ti)供穩定(ding)可(ke)靠的測(ce)(ce)試解決(jue)方案。

值得一提的是,PMST系列功率器件靜態參數測試系統核心的E系列高電壓源測單元、HCPL100高電流脈沖電源、P系列高精度臺式脈沖源表均由普賽(sai)斯(si)儀表自主(zhu)研發(fa),全面(mian)突(tu)破高端國際(ji)設備技術瓶頸,實(shi)現自主(zhu)可控。模(mo)(mo)塊化的(de)設計(ji)使得測(ce)試方(fang)法更(geng)加靈活,用戶可以根據實(shi)際(ji)需求添加或升級(ji)測(ce)量模(mo)(mo)塊,適應(ying)功(gong)率(lv)器件不斷變化的(de)測(ce)試需求。
此外,針對操作人員安全以及適應各種功率器件封裝類型的需求,定制化的測試夾具顯(xian)得尤為重要。普賽(sai)斯儀表針對市場(chang)上多樣化的(de)功率半導體產品(pin)封(feng)裝類型,提供(gong)了一(yi)整套全面且精細的(de)夾(jia)具解(jie)決(jue)方案。這些夾(jia)具不僅具備低(di)阻抗、安裝便捷等顯(xian)著(zhu)特點,而且種類繁多,能(neng)夠滿足SiC單管、模組類產品(pin)的(de)測試。





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